|
Двухлучевые сканирующие спектрофотометры серии СФ-256 предназначены для решения широкого круга задач любой сложности. Данные cпектрофотометры можно использовать как для прецизионных измерений в научно-исследовательских лабораториях, так и для проведения рутинных и автоматических измерений в лабораториях промышленных предприятий, биологических и биохимических лабораториях и в лабораториях по контролю окружающей среды. Спектрофотометры выпускаются в двух модификациях: для ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областей спектра (190-1100нм) - СФ-256УВИ; и для ближней инфракрасной области спектра (1000-2500нм) - СФ-256БИК. Двойной монохроматор, построенный на вогнутых дифракционных решетках с переменным шагом позволяет обеспечить низкий уровень рассеянного света до 0,01%. Управление спектрофотометром и обработка данных производится от встроенного микропроцессора и пульта управления либо от IBM-совместимого персонального компьютера (ПК). В качестве источников излучения использованы дейтериевая и галогенная лампы с автоматическим переключением. Просторное кюветное отделение спектрофотометров позволяет установку исследуемых образцов с различной конфигурацией и длиной оптического пути. В кюветное отделение можно устанавливать приставку для измерения коэффициентов диффузного отражения или приставки для измерения коэффициентов зеркального отражения плоских объектов. Высокая стабильность показаний, свойственная двухлучевым спектрофотометрам обеспечивает проведение кинетических измерений с высокой точностью. Характеристики | CФ-256УВИ | СФ-256БИК | Спектральный диапазон | 190-1100 | 1000-2500 | Диапазон измерений по фотометрическим шкалам:
- коэффициентов пропускания, %
- оптических плотностей, ед. ОП |
от 0,1 до 200
от -0,1 до 3,0 |
от 0,1 до 200
от 0,0 до 2,0 | Абсолютная погрешность измерений коэффициентов пропускания, % | +/- (0,25-1,0) | +/- 1 | Погрешность по шкале длин волн, нм | +/- 1 | +/- 2 | Воспроизводимость установки длины волны, нм | +/- 0,1 | +/- 0,2 | Уровень мешающего излучения, %:
на длине волны 220 нм |
0,05 |
-- | Дрейф, ед. ОП/час | 0,0002 | -- | Спектральная ширина щелей, нм | 0.3; 0.6;1;3;6 | 0.6;1.2;2;6;12 | Детектор | Кремниевый фотодиод | Фоторезистор PbS | Скорость сканирования, нм/мин | от 3000 до 24 | от 3000 до 24 | Габаритные размеры, мм, не более | 480х430х200 | 480х430х200 | Масса , кг, не более | 18 | 18 |
Дополнительно Вы можете заказать: Приставку для измерения коэффициентов диффузного отражения ПДО-7 | Приставку для измерения коэффициентов зеркального отражения ПЗО-10 | |
Плюсы нашего программного обеспечения: · Программное обеспечение работает в среде MS Windows 98 и выше. · Запись спектра в любом интервале длин волн · Измерение концентации с расчетом калибровочных коэффициентов по стандартным образцам · Возможность создания и сохранения самостоятельных методик в режиме измерения концентраций с различными видами калибровочной кривой · Проведение кинетических измерений · Расчет координат цвета и цветности · Удобный интерфейс для плавного масштабирования осей · Встроенный калькулятор с широким набором математических функций · On-line калькулятор, позволяющий производить операции с сигналом в процессе его регистрации · Поиск максимумов и минимумов, сглаживание, графический редактор спектров · Экспорт и импорт данных, обмен данными с другими приложениями MS Windows (Word, Excel)
|
